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2022-11-23
陶瓷片厚度测量
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线光谱共焦位移传感器
同轴检测不限材质 兼容性±20°，支持透明、镜面、高反光等不同材质表面的高精度3D测量。 微米级检测精度 超高测量性能，实现微米级形貌测量精度。 丰富的算法功能 采用高速数据处理算法，可测量高速的生产工艺。
点光谱共焦位移传感器G系列
G系列控制器是基于光谱共焦技术，并采用先进的FPGA+CPU硬件架构等技术自研而成的创新型产品。结合高强度LED光源、创新的棱镜光谱仪专利设计、高灵敏度探测器和FPGA高速处理，实现超高实时性、超高集成度、接口丰富等特色产品属性。
点光谱共焦位移传感器H系列
可以测量任何材料的厚度、高度、轮廓 其产品传感器分为单通道，双通道，三通道等，最高可以达到八通道
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